CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6。

**解析：** 该说法是**错误**的。 **详细分析：** 1. **CSK-ⅡA 试块的标准反射体：** 根据国家标准（如 NB/T 47013.3-2015《承压设备无损检测 第3部分：超声检测》或 JB/T 4730 等相关标准），CSK-ⅡA 试块主要用于焊缝超声检测中斜探头距离-波幅曲线（DAC曲线）的制作以及灵敏度的校准。其内部主要的人工反射体是**横孔**，但具体的规格通常不是 $\Phi 1 \times 6$。 * CSK-ⅡA 试块上通常包含不同深度的 $\Phi 1 \times 6$ **短横孔** 或者 $\Phi 2 \times 40$ **长横孔**（具体取决于试块的设计版本和适用标准，但在常见的通用描述中，CSK-IIA系列试块最典型的特征反射体往往指的是用于制作DAC曲线的特定尺寸横孔）。 * 然而，更关键的错误在于对“CSK”系列试块功能的混淆。在许多教材和标准语境下，**CSK-IA** 试块（类似IIW试块）主要含有 $\Phi 50$ 圆弧面和 $\Phi 1.5$ 横孔等，用于测定斜探头的入射点、折射角和调整扫描速度。 * **CSK-ⅡA** 试块（或称为RB试块系列的一种变体，具体视标准而定，但在国内特种设备检测中常指代含有特定横孔的对比试块）：实际上，国内常用的**CSK-ⅡA** 试块（依据JB/T 4730等旧标或行业习惯）上的人工反射体通常指的是 **$\Phi 2 \times 40$ 长横孔** 或者特定深度的 **$\Phi 1 \times 6$ 短横孔** 的组合，但单纯说“人工反射体是 $\Phi 1 \times 6$”表述不准确或不完整，且容易与 **CSK-ⅢA** 或其他试块混淆。 2. **更常见的考点辨析：** * **CSK-IA 试块**：主要反射体包括 R50、R100 圆弧面，以及 $\Phi 1.5$ 横孔（用于测定前沿、K值等）。 * **CSK-ⅡA 试块**：通常用于绘制距离-波幅曲线。在某些标准体系中，它包含的是 **$\Phi 2 \times 40$** 的长横孔。 * **CSK-ⅢA 试块**：通常包含 **$\Phi 1 \times 6$** 的短横孔，用于小径管或薄板焊缝检测的灵敏度校准。 **结论修正：** 通常在超声检测的基础考题中，**$\Phi 1 \times 6$ 短横孔** 是 **CSK-ⅢA** 试块（或类似用途的对比试块）的典型特征，而不是 CSK-ⅡA 的主要或唯一特征。CSK-ⅡA 试块更常关联的是 **$\Phi 2 \times 40$ 长横孔**（用于一般焊缝DAC曲线制作）。因此，将 CSK-ⅡA 的人工反射体直接定义为 $\Phi 1 \times 6$ 是错误的，这通常是 CSK-ⅢA 试块的特征。 **总结：** CSK-ⅡA 试块上常用的人工反射体通常为 $\Phi 2 \times 40$ 长横孔（用于制作DAC曲线），而 $\Phi 1 \times 6$ 短横孔通常是 CSK-ⅢA 试块的特征。故原题说法错误。