根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956，测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时，应避开如下哪些难于清除的明显缺陷（）。

根据国家标准《磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性法》（GB/T 4956）的相关规定，在进行涂层厚度测量时，基体金属表面的状态对测量结果的准确性有直接影响。 **解析如下：** 1. **标准依据**： GB/T 4956 标准中明确指出，测量应在清洁、平滑的表面上进行。如果基体表面存在某些缺陷或异物，会改变磁头与基体金属之间的实际距离或磁导率，从而导致测量误差。 2. **选项分析**： * **A. 酸蚀斑**：酸蚀会导致基体表面微观不平或产生残留物，影响探头与基体的接触及磁场分布，属于应避开的缺陷。 * **B. 氧化物**：氧化层通常是非磁性的或具有不同的磁特性，且厚度不均，会直接干扰磁性法测量的基准，必须避开或清除。 * **C. 浮渣**：浮渣是附着在表面的杂质，增加了非磁性层的表观厚度，导致测量值偏大，属于明显缺陷。 * **D. 钎焊焊剂**：焊剂残留物通常具有绝缘性或非磁性，且分布不均，会严重干扰磁场，影响测量精度，属于难于清除的明显缺陷。 3. **结论**： 为了确保测量数据的准确性和可靠性，测量点应避开所有可能干扰磁场分布或改变探头间距的表面缺陷。题目中列出的酸蚀斑、氧化物、浮渣和钎焊焊剂均属于此类干扰因素。 因此，正确答案为 **A、B、C、D**。