据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956，测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时，当基体金属厚度没有超过临界厚度时，（）。

根据国家标准《磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性法》（GB/T 4956）的相关规定，当基体金属的厚度小于临界厚度时，基体的厚度会对测量结果产生显著影响。这是因为磁性测厚仪的工作原理依赖于磁通量在基体中的闭合回路，如果基体过薄，磁阻会发生变化，导致测量误差。 为了消除或减小这种由基体厚度不足引起的误差，标准中通常推荐以下几种处理方法： 1. **关于选项 A 和 C**：当试样基体厚度不足时，可以通过在基体背面垫上足够厚的相同金属材料，使得“试样基体+垫片”的总厚度超过临界厚度。这样做的目的是模拟一个无限厚或足够厚的基体环境，从而保证测量的准确性。这既适用于校准阶段（使用校准标准片时，若其基体薄，也需垫起，即选项 A），也适用于实际测量阶段（对试样基体进行垫起，即选项 C）。 2. **关于选项 B**：仪器的校准必须尽可能模拟实际测量的条件。如果实际试样的基体较薄且未采取垫起措施，或者即使采取了垫起措施，为了确保精度，最理想的做法是使用与试样具有相同厚度和相同磁性能的基体材料制成的校准标准片进行校准。这样可以最大程度地抵消因基体厚度和磁性能差异带来的系统误差。 3. **关于选项 D**：显然错误。基体厚度低于临界厚度时，会对测量结果产生直接影响，若不进行修正或特殊处理，测量结果将不准确。 因此，为了获得准确的测量结果，可以采取垫起基体（针对标准片或试样）或使用匹配的标准片进行校准等措施。选项 A、B、C 均为标准中提及或符合测量原理的正确操作方式。 **正确答案：ABC**