根据《磁性基体上非磁性覆盖层覆盖层厚度测量磁性法》GB/T4956，测量磁性基体金属上非磁性覆盖层厚度时，为了减小边缘效应的影响，不要在靠近如下哪些部位进行测量（）。

**解析：** 根据国家标准 **GB/T 4956《磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性法》** 的相关规定，在使用磁性测厚仪进行测量时，测量结果容易受到基体几何形状的影响，这种现象被称为“边缘效应”。 为了获得准确可靠的测量数据，标准明确指出应避开那些可能引起磁场分布畸变的区域。具体包括： 1. **边缘（A）**：靠近试件边缘时，磁力线会发生畸变，导致测量值不准确。 2. **孔洞（B）**：孔洞周围同样存在磁场畸变，且基体材料的不连续会影响磁通量。 3. **不连续的部位（C）**如焊缝、划痕或表面粗糙度剧烈变化的区域，这些地方的物理特性不均一，会干扰测量信号。 4. **内转角（D）**：在内角或凹陷处，探头与基体的耦合状态及磁场分布均不同于平面，极易产生误差。 因此，为了减小边缘效应及其他几何因素对测量精度的影响，测量点应选择在平整、远离上述特征的区域。通常标准要求测量点距离边缘、孔洞或不连续部位至少一定的距离（例如几毫米至十几毫米，具体取决于仪器和标准版本的要求）。 综上所述，选项 **A、B、C、D** 均为应避免测量的部位。 **正确答案：ABCD**